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或者
檢測認證人脈交流通訊錄

日本JIMA RT RC-04分辨率測試卡

  • 這真不是您需要的產品?
  • 品  牌:
  • 日本JIMA
  • 主要規格:
  • 用  途:
    • JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 μm 和 10 μm 之間的分辨率,對應于 0.2 μm 和 20 μm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應用于硅載體 JIMA RT RC-04分辨率測試卡特點: 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm 芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm 圖案布局:T型 線/空間尺寸:32種規格圖案, 0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm, 0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm, 每個測試圖案由 8 條線組成,T 形布局 吸收材料:鎢,厚度>=650nm 保護膜:PET膜25μm(含粘合劑) 硅基:15 μm +/- 1 μm(厚度) 外殼尺寸:40 x 30 x 5 毫米(寬 x 高 x 深) 芯片尺寸:5 x 5 x 0.06mm(寬 x 高 x 深) 精度模式: 公差: +/- 10% 適用范圍工作溫度:10°C至70°C JIMA RT RC-04分辨率測試卡用途: 在 X 射線系統的分辨率測試。選擇檢測器、樣品和試管之間的距離,以便獲得盡可能高的放大倍數?,F在選擇所需的 X 射線參數。將測試圖案放置在試管前面,以便一束線條中的每條線條清晰可見。使用機械手進行溶出度測試,使下一個最小的線束變得可見。只要線條清晰,就繼續。以下近似適用:焦點尺寸等于分辨率乘以 2。 JIMA RT RC-04分辨率測試的布局+封裝

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